LFC-050-LE

LED光通量和色度測(cè)量系統(tǒng)（LFC）是一套高性價(jià)比光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)。這套系統(tǒng)基于國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)和行業(yè)方法設(shè)計(jì)，引進(jìn)新型的一整套總光譜通量解決方案。以光譜儀和LFC-SPEC軟件為特色，結(jié)合藍(lán)菲光學(xué)測(cè)量積分球和藍(lán)菲光學(xué)NIST溯源標(biāo)準(zhǔn)燈，它的功能是測(cè)試分析LED、LED模塊、LED燈以及通用照明器件的光學(xué)、色度和電學(xué)特性。
系統(tǒng)操作簡(jiǎn)單，響應(yīng)快速，完整、準(zhǔn)確和快速的數(shù)據(jù)獲得表現(xiàn)可以幫助用戶得到他所需要的真實(shí)數(shù)據(jù)，是測(cè)試實(shí)驗(yàn)室、工廠和研究機(jī)構(gòu)的有利工具。

系統(tǒng)特點(diǎn)

• 中文和英文版的軟件
• 操作方法提示的操作
• MtriX-SPEC的直觀校準(zhǔn)流程
• 用戶校準(zhǔn)和驗(yàn)證流程
• 顯示、記錄和存儲(chǔ)測(cè)量數(shù)據(jù)
• 產(chǎn)品測(cè)試結(jié)果的通過/失敗篩選功能
• 用于測(cè)試壽命特性的時(shí)基圖
• 寬譜光源高動(dòng)態(tài)范圍
• 包括NIST溯源標(biāo)準(zhǔn)燈
• 2Pi和4Pi測(cè)試功能

測(cè)量參數(shù)

• 總光譜光通量（Watts/nm）
• 總輻射通量（Watts）
• 總光通量（lumens）
• 相對(duì)色溫（CCT）
• 色橢圓和色四邊形
• 燈性能隨時(shí)間變化
• 峰值波長(zhǎng)和主波長(zhǎng)
• 光譜純度
• 顯色性（CRI）
• 色度坐標(biāo)
• 半光譜帶寬度

• 適用領(lǐng)域

• 小功率、大功率LED芯片/單顆式LED / 通用光源/ LED燈具/
• 小功率、大功率LED模組/特種光源/常用燈具/大型燈具

• 快速性

  高靈敏CCD陣列探測(cè)器光譜儀具有低噪聲、高動(dòng)態(tài)范圍和快速響應(yīng)速度等特性。快速的響應(yīng)速度可以幫助提高產(chǎn)品開發(fā)效率，縮短產(chǎn)品上市時(shí)間，減少產(chǎn)品開發(fā)成本。配合集成的軟件可以使xxx終用戶完成校準(zhǔn)、吸收校正以及所有測(cè)試，可以加速用戶的響應(yīng)時(shí)間，縮短評(píng)估周期，從而節(jié)約成本。

  準(zhǔn)確性

  藍(lán)菲光學(xué)提供NIST溯源光通量標(biāo)準(zhǔn)燈。xxx光譜輻射通量的標(biāo)準(zhǔn)燈提供xxx終用戶整個(gè)光譜范圍的光通量的xxx值，單位為W/nm。這樣校準(zhǔn)能得到比僅溯源光通量的校準(zhǔn)更精確的結(jié)果。光譜數(shù)據(jù)對(duì)于光學(xué)和色度測(cè)量是xxx重要的。使用輔助燈能幫助系統(tǒng)得到更準(zhǔn)確的結(jié)果，它可以xxx減少測(cè)試設(shè)備的吸收誤差。集成軟件的整套系統(tǒng)可以幫助xxx終用戶按照正確的步驟完成測(cè)試。
  高反射率和高朗伯特特性涂料的優(yōu)勢(shì)，可以使進(jìn)入積分球的光均勻分布。這對(duì)于得到準(zhǔn)確的測(cè)試值是很重要的。越均勻分布會(huì)得到越接近真實(shí)值的測(cè)試值。SRDF（Spatial Response Distribution Function）通常<±10%或更好，遠(yuǎn)遠(yuǎn)低于一般的積分球的誤差值。

  完整性和靈活性

  LED光通量和色度測(cè)量系統(tǒng)為研究，開發(fā)和質(zhì)量控制而使用光譜儀。系統(tǒng)由一個(gè)多功能積分球、一個(gè)高靈敏光譜儀、NIST溯源光通量標(biāo)準(zhǔn)燈、輔助燈及電源組成。系統(tǒng)軟件簡(jiǎn)單易用，功能強(qiáng)大，可在同一時(shí)間得到大多數(shù)光色參數(shù)。圖形化的界面設(shè)計(jì)使用戶很容易理解并掌握整個(gè)校準(zhǔn)和測(cè)試步驟，滿足了用戶所要求的簡(jiǎn)單操作模式。
  這套系統(tǒng)通過選擇合適的校準(zhǔn)燈就可以兼容2pi和4pi測(cè)量。這樣靈活的功能可實(shí)現(xiàn)用戶基于能源之星或國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)量，同時(shí)兼容更多的待測(cè)樣品。